Chambre d’essai WBE-KSH1000/changement rapide de température

L’éprouvette peut être soumise à des tests de contrainte thermique (ESS), à des contrôles de température et d’humidité, à des tests de fiabilité, etc. Les taux de rampe de température couramment utilisés sont 5 °C/min, 10 °C/min, 15 °C/min, 20 °C/min et 25 °C/min.

Domaines d’application :

Puces à semi-conducteurs, instituts de recherche scientifique, inspection de la qualité, nouvelles énergies, communications optoélectroniques, aérospatiale et industrie militaire, industrie automobile, écrans LCD, industries médicales et autres industries technologiques.

Normes d’essai :

GB/T 2423.1 Méthode d’essai à basse température, GJB 150.3 Méthode d’essai à haute température, GB/T 2423.2 Méthode d’essai à haute température, GJB 150.4 Essai à basse température, GB/T2423.34 Méthode d’essai du cycle d’humidité, GJB 150.9 Méthode d’essai d’humidité, IEC60068-2 Méthode d’essai de température et d’humidité, MIL-STD-202G-103B Méthode d’essai d’humidité

Caractéristiques du produit :

1. Le produit répond aux exigences de rampe de température linéaires et non linéaires.
2. Il répond aux exigences de taux de rampe de température de 5 °C / min à 30 °C / min.
3. Les caractéristiques optionnelles comprennent l’azote liquide, la chaleur humide et l’anti-condensation.
4. En utilisant la technologie des détendeurs électroniques et un système de contrôle innovant, le produit réalise des économies d’énergie dépassant 45 %.